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    試驗設(shè)備是在試驗室內(nèi)用人工方法模擬一種或多種嚴(yán)酷環(huán)境破壞性的組合試驗設(shè)備，是研制、開發(fā)新產(chǎn)品和檢驗產(chǎn)品質(zhì)量性能的環(huán)境試驗設(shè)備。是我們所*的檢驗試驗設(shè)備。所以正確使用和維護(hù)環(huán)境與可靠性試驗設(shè)備尤其重要。
    環(huán)境試驗設(shè)備大致可分為：氣候環(huán)境設(shè)備（含生物環(huán)境試驗設(shè)備）、機械環(huán)境試驗設(shè)備、氣候機械綜合環(huán)境試驗設(shè)備和其他環(huán)境試驗設(shè)備等。我們所就有各種環(huán)境試驗設(shè)備幾十臺套。環(huán)境試驗設(shè)備為現(xiàn)代高科技產(chǎn)品研制開發(fā)和產(chǎn)品定期檢驗及驗收試驗提供了必要的信息和數(shù)據(jù)。
    環(huán)境試驗設(shè)備的現(xiàn)狀
    目前國內(nèi)環(huán)境試驗設(shè)備大多是為了滿足國標(biāo)GB2423 《電工電子產(chǎn)品基本試驗規(guī)程》而生產(chǎn)的，這些環(huán)境試驗設(shè)備現(xiàn)都有相應(yīng)的產(chǎn)品國標(biāo)，如
GB10586-89《濕熱試驗箱技術(shù)條件》
GB10589-89《低溫試驗箱技術(shù)條件》
GB10591-89《高/低溫試驗箱技術(shù)條件》
GB10591-89《高/低溫試驗箱技術(shù)條件》等。
    發(fā)展歷史

    八十年代以前，我國使用的大多數(shù)環(huán)境試驗設(shè)備都是從西方國家引進(jìn)的，價格比較昂貴，而如今，隨著電子技術(shù)的發(fā)展，特別是控制技術(shù)的發(fā)展，從模擬控制到現(xiàn)在的數(shù)字控制；顯示方式從指針到數(shù)字再到現(xiàn)在的觸摸屏顯示；控制精度從±1℃提高到0.1℃甚至于0.01℃之內(nèi)；設(shè)備體積從很小的箱體，到幾百立方大的房（室），我國的環(huán)境試驗設(shè)備生產(chǎn)廠家已經(jīng)能生產(chǎn)符合試驗要求的設(shè)備。性能可以與進(jìn)口設(shè)備相媲美，而價格只有進(jìn)口設(shè)備一半左右。但某些特殊設(shè)備,如溫度沖擊設(shè)備、溫度快速變化（15℃/min）還不能國產(chǎn)化或生產(chǎn)的設(shè)備不能符合要求。